Mégsem tetszik a termék? Semmi gond! A termékeket akár 30 napig visszaküldheti
Ajándékutalvánnyal nem hibázhat. A megajándékozott az ajándékutalványért bármit választhat kínálatunkból.
Akár 30 napos visszaküldési lehetőség
Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.
Szia! Libroamiko vagyok, a könyvtanácsadód.
Miben segíthetek?