Kapcsolat
Hogyan vásároljunk
Kézbesítés
Vásárlási tanácsadó
Angol
271 b
Akár 30 napos visszaküldési lehetőség
A vásárlók ilyet vásároltak
/
Puha kötésű
11 515
Ft
/
Kemény kötésű
5 661
Ft
/
Puha kötésű
46 994
Ft
/
Puha kötésű
24 052
Ft
/
Puha kötésű
5 210
Ft
Adopting new fabrication technologies not only provides higher integration and enhances performance, but also increases the types of manufacturing defects. With design size in millions of gates and working frequency in GHz timing-related defects havv become a high proportion of the total chip defects. For nanometer technology designs, the stuck-at fault test alone cannot ensure a high quality level of chips. At-speed tests using the transition fault model has become a requirement in technologies below 180nm.§Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.
Információ a könyvről
Angol
Kategória
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címéreEzt is ajánljuk
/
Puha kötésű
23 278
Ft
/
Puha kötésű
8 464
Ft
/
Puha kötésű
32 617
Ft
/
Puha kötésű
7 488
Ft
Szia! Libroamiko vagyok, a könyvtanácsadód.
Miben segíthetek?