Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Posta 1 795 Ft
DPD 1 995 Ft
PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft
Postán 1 690 Ft
GLS futár 1 590 Ft
Packeta 990 Ft
GLS pont 1 390 Ft
Hogyan vásároljunk
Segítség
Kézbesítés
Posta 1 795 Ft
DPD 1 995 Ft
PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft
Postán 1 690 Ft
GLS futár 1 590 Ft
Packeta 990 Ft
GLS pont 1 390 Ft
Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Vásárlási tanácsadó
Segíthetünk?
+36 1 6333 184
Saját fiók
Legyen része a világ minden tájáról összegyűlt könyvbarátok közösségének és élvezze a rengeteg előnyt.
Ingyenes fiók létrehozása
▸
Üres :-(
0
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Nyelv
Angol
Angol
Könyv
Kemény kötésű
Libristo kód: 06726976
?
714 b
714 b
114 816
Ft
50 % esély
Keressük az egész világon
Mikor kapom meg a terméket?
30 nap a termék visszaküldésére
Ezt is ajánljuk
/
Puha kötésű
34 090
Ft
Információ a könyvről
Teljes megnevezés
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Szerző
Sandeep K. Goel
Nyelv
Angol
Angol
Kötés
Könyv - Kemény kötésű
Kiadás éve
2013
Oldalszám
259
EAN
9781439829417
ISBN
9781439829417
Libristo kód
06726976
Kiadó
Taylor & Francis Inc
Súly
598
Méretek
175 x 238 x 22
Kategória
Technológia, mérnöki tudományok, mezőgazdaság
>
Elektronikus és kommunikációs gépészet
>
Villamosmérnöki tudomány
>
Elektronika: áramkörök és komponensek
