Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Posta 1 795 Ft
DPD 1 995 Ft
PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft
Postán 1 690 Ft
GLS futár 1 590 Ft
Packeta 990 Ft
Hogyan vásároljunk
Segítség
Kézbesítés
Posta 1 795 Ft
DPD 1 995 Ft
PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft
Postán 1 690 Ft
GLS futár 1 590 Ft
Packeta 990 Ft
Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Vásárlási tanácsadó
Segíthetünk?
+36 1 6333 184
Saját fiók
Legyen része a világ minden tájáról összegyűlt könyvbarátok közösségének és élvezze a rengeteg előnyt.
Ingyenes fiók létrehozása
▸
Üres :-(
0
Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Nyelv
Angol
Angol
Könyv
Kemény kötésű
Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the cha...
Teljes leírás
Libristo kód: 01389606
?
719 b
719 b
111 751
Ft
Beszállítói készleten
Küldés 14-18 napon belül
30 nap a termék visszaküldésére
Ezt is ajánljuk
/
Kemény kötésű
96 100
Ft
Semiconductor Material and Device Characterization is the only book on the market devoted to the characterization techniques used by the modern semiconductor industry to measure diverse semiconductor materials and devices. It covers the full range of electrical and optical characterization methods while thoroughly treating the more specialized chemical and physical techniques. In the third edition, Professor Schroder has rewritten parts of each chapter and added two new chapters (Charge Based Measurements and Failure Analysis and Reliability), redrawn and updated most figures, and included new problems and approximately 100 new references.
Információ a könyvről
Teljes megnevezés
Semiconductor Material and Device Characterization 3e
Szerző
Dieter K. Schroder
Nyelv
Angol
Angol
Kötés
Könyv - Kemény kötésű
Kiadás éve
2006
Oldalszám
800
EAN
9780471739067
ISBN
0471739065
Libristo kód
01389606
Kiadó
John Wiley & Sons Inc
Súly
1324
Méretek
243 x 238 x 51
