phone +36 1 6333 184
LIBRISTO 0
Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Posta 1 795 Ft DPD 1 995 Ft PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft Postán 1 690 Ft GLS futár 1 590 Ft Packeta 990 Ft
phone Kapcsolat phoneHogyan vásároljunk

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Nyelv AngolAngol
Könyv Kemény kötésű
Könyv Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics David G. Seiler
Libristo kód: 01391053
Kiadó Springer, Berlin, november 2006
This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers... Teljes leírás
? points 387 b
60 131 Ft
50 % esély Keressük az egész világon Mikor kapom meg a terméket?

30 nap a termék visszaküldésére

Ezt is ajánljuk

Candide Voltaire / Puha kötésű
common.buy 9 868 Ft
Český jazyk pro SŠ – Mluvnice Ivo Martinec / Puha kötésű
common.buy 5 376 Ft
Hopkins Touch David Roll / Kemény kötésű
common.buy 13 702 Ft
Microtia and Atresia - Combined Approach by Plastic and Otologic Surgery aga / Kemény kötésű
common.buy 80 517 Ft
Lives of the Most Eminent Painters Sculptors and Architects Vol. 03 (of 10), Filarete and Simone to Mantegna Giorgio Vasari / Puha kötésű
common.buy 15 334 Ft
Der Nachrichtenwert Im Situativen Kontext Ingrid A. Uhlemann / Puha kötésű
common.buy 21 506 Ft
Viaz'ma Catastrophe, 1941 Lev Lopukhovsky / Kemény kötésű
common.buy 26 663 Ft
Garden of One's Own Tam King Fai / Puha kötésű
common.buy 15 120 Ft
Niemand, der mit mir geht Nadine Gordimer / Puha kötésű
common.buy 6 058 Ft
Komm, Emil, wir gehn heim! Hans Traxler / Kemény kötésű
common.buy 5 048 Ft

This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry s characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.

Információ a könyvről

Teljes megnevezés Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics
Szerző David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald
Nyelv Angol
Kötés Könyv - Kemény kötésű
Kiadás éve 2007
Oldalszám 578
EAN 9780735404410
Libristo kód 01391053
Kiadó Springer, Berlin
Súly 1586
Méretek 216 x 279 x 41

Kategória

Technológia, mérnöki tudományok, mezőgazdaság > Technológia: általános kérdések > Eszközök és mérnöki műszerezettség
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címére

Belépés

Bejelentkezés a saját fiókba. Még nincs Libristo fiókja? Hozza létre most!

 
kötelező
kötelező
Elfelejtett jelszó

Nincs fiókja? Szerezze meg a Libristo fiók kedvezményeit!

A Libristo fióknak köszönhetően mindent a felügyelete alatt tarthat.

Libristo fiók létrehozása