Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Posta 1 795 Ft DPD 1 995 Ft PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft Postán 1 690 Ft GLS futár 1 590 Ft Packeta 990 Ft GLS pont 1 390 Ft

Field Emission Scanning Electron Microscopy

Nyelv AngolAngol
Könyv Puha kötésű
Könyv Field Emission Scanning Electron Microscopy Nicolas Brodusch
Libristo kód: 16018571
Kiadó Springer Verlag, Singapore, október 2017
This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new gene... Teljes leírás
? points 242 b
38 116 Ft
Beszállítói készleten alacsony példányszámban Küldés 12-17 napon belül

30 nap a termék visszaküldésére


Ezt is ajánljuk


toplistás
Tales of Pirx the Pilot Stanislaw Lem / Puha kötésű
common.buy 4 625 Ft
Imperfect Girl, 2 Nisioisin / Puha kötésű
common.buy 5 023 Ft
Bloody Mary, Vol. 9 Akaza Samamiya / Puha kötésű
common.buy 4 000 Ft
Where is Claris in Paris HESS MEGAN / Kemény kötésű
common.buy 4 645 Ft
Hitler's Wehrmacht, 1935--1945 Rolf-dieter Müller / Kemény kötésű
common.buy 19 466 Ft
Public Policy Instruments / Kemény kötésű
common.buy 50 282 Ft
African Drum Music - Kpanlogo Kongo Zabana / Puha kötésű
common.buy 15 990 Ft
Zur Problematik der statistischen Armutsmessung Dominik Jesse / Puha kötésű
common.buy 16 398 Ft
Public Administration and Public Affairs HENRY / Puha kötésű
common.buy 86 151 Ft
New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy Kenichi Shimizu / Puha kötésű
common.buy 52 141 Ft
Engineering Properties Of High Volume Biomass Waste Mortar Habeeb Alzuabidi / Puha kötésű
common.buy 18 710 Ft

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage

Információ a könyvről

Teljes megnevezés Field Emission Scanning Electron Microscopy
Nyelv Angol
Kötés Könyv - Puha kötésű
Kiadás éve 2017
Oldalszám 137
EAN 9789811044328
ISBN 9811044325
Libristo kód 16018571
Súly 252
Méretek 240 x 159 x 13
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címére

Belépés

Bejelentkezés a saját fiókba. Még nincs Libristo fiókja? Hozza létre most!

 
kötelező
kötelező

Nincs fiókja? Szerezze meg a Libristo fiók kedvezményeit!

A Libristo fióknak köszönhetően mindent a felügyelete alatt tarthat.

Libristo fiók létrehozása