Kapcsolat
Hogyan vásároljunk
Kézbesítés
Vásárlási tanácsadó
Electromigration Inside Logic Cells
Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
Angol
145 b
Akár 30 napos visszaküldési lehetőség
A vásárlók ilyet vásároltak
/
Puha kötésű
6 998
Ft
/
Puha kötésű
5 616
Ft
This book describes new and effective methodologies for modeling, analyzing and mitigating cell-internal signal electromigration in nanoCMOS, with significant circuit lifetime improvements and no impact on performance, area and power. The authors are the first to analyze and propose a solution for the electromigration effects inside logic cells of a circuit. They show in this book that an interconnect inside a cell can fail reducing considerably the circuit lifetime and they demonstrate a methodology to optimize the lifetime of circuits, by placing the output, Vdd and Vss pin of the cells in the less critical regions, where the electromigration effects are reduced. Readers will be enabled to apply this methodology only for the critical cells in the circuit, avoiding impact in the circuit delay, area and performance, thus increasing the lifetime of the circuit without loss in other characteristics.
Információ a könyvről
Angol
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címéreEzt is ajánljuk
/
Adobe ePub DRM
76 222
Ft
/
Puha kötésű
16 811
Ft
/
Kemény kötésű
69 219
Ft
/
Puha kötésű
27 690
Ft
