Kapcsolat
Hogyan vásároljunk
Kézbesítés
Vásárlási tanácsadó
Design for Testability, Debug and Reliability
Next Generation Measures Using Formal Techniques
Angol
210 b
Akár 30 napos visszaküldési lehetőség
A vásárlók ilyet vásároltak
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.
Információ a könyvről
Angol
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címéreEzt is ajánljuk
/
Puha kötésű
9 024
Ft
/
Kemény kötésű
15 956
Ft
Szia! Libroamiko vagyok, a könyvtanácsadód.
Miben segíthetek?