Kapcsolat
Hogyan vásároljunk
Kézbesítés
Vásárlási tanácsadó
Design for Testability, Debug and Reliability
Angol
289 b
Akár 30 napos visszaküldési lehetőség
A vásárlók ilyet vásároltak
/
Kemény kötésű
11 236
Ft
/
Puha kötésű
8 276
Ft
/
Puha kötésű
18 914
Ft
/
Puha kötésű
4 856
Ft
/
Puha kötésű
9 920
Ft
/
Puha kötésű
26 908
Ft
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications. The authors describe new measures to address the rising challenges in the field of design for testability, debug, and reliability, as strictly required for state-of-the-art circuit designs. In particular, this book combines formal techniques, such as the Satisfiability (SAT) problem and the Bounded Model Checking (BMC), to address the arising challenges concerning the increase in test data volume, as well as test application time and the required reliability. All methods are discussed in detail and evaluated extensively, while considering industry-relevant benchmark candidates. All measures have been integrated into a common framework, which implements standardized software/hardware interfaces.
Információ a könyvről
Angol
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címéreEzt is ajánljuk
/
Puha kötésű
22 725
Ft
/
Puha kötésű
9 056
Ft
/
Puha kötésű
5 945
Ft
/
Puha kötésű
12 207
Ft
/
Kemény kötésű
9 771
Ft
/
Puha kötésű
8 816
Ft
/
Puha kötésű
40 416
Ft
Szia! Libroamiko vagyok, a könyvtanácsadód.
Miben segíthetek?