Kapcsolat
Hogyan vásároljunk
Kézbesítés
Vásárlási tanácsadó
Advanced Test Methods for SRAMs
Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Angol
285 b
30 nap a termék visszaküldésére
A vásárlók ilyet vásároltak
/
Puha kötésű
17 328
Ft
/
Puha kötésű
11 929
Ft
Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as "dynamic faults", are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
Információ a könyvről
Angol
Kategória
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címéreEzt is ajánljuk
/
Puha kötésű
6 076
Ft
/
Puha kötésű
7 444
Ft
Szia! Libroamiko vagyok, a könyvtanácsadód.
Miben segíthetek?